KD-ZL4蒸氣老化試驗箱

產品簡介
KD-ZL4蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

產品型號：

更新時間：2024-07-18

廠商性質：生產廠家

訪問量：395

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

模擬環(huán)境類檢測儀器

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KD-ZL4蒸氣老化試驗箱

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KD-ZL4蒸氣老化試驗箱

規(guī)格說明：

一、箱體尺寸及結構內部尺寸：

1．內抽屜單個尺寸：長30 *寬11*高7.5 (單位：厘米）

總共三個抽屜

2．外尺寸：具體以實物為準

3．內、外材質為SUS#304不銹鋼板

4．防密之迫緊材質為Silicom

5．外觀如圖，具體以實物為準

二、溫控系統(tǒng)

1．溫度控制為微電腦濕度控制器 P.ID.+P.W.M.+S.S.R控制，LED數(shù)字顯示。

2．輸出為12V

3．電流控制器為SSR無接點Relay

4．蒸汽溫度：常溫到98℃，約30分鐘

5．加熱方式：U型不銹鋼加熱管

三、精度

1.控制精度±1.0℃

2.顯示解析0.5℃

3.分布溫度±1%

四、電壓 220V 單相

五、配件

1．超高溫保護

2．定時器 99.9秒～999小時

a. 連續(xù)使用

b. 溫到計時，時間至切斷加熱電流

KD-ZL4蒸氣老化試驗箱，每一個日出，都是新的希望，每一個日落，都是新的期待。保持積極，珍惜當下，每一天都是滿滿的正能量。有一種開心，叫努力送貨，因為每一單都是你們的信任，不負時光，不負你我，感恩有您。

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產品簡介 KD-ZL4蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

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KD-ZL4蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。